Спецификации: Cu (1.5406 Å) и Co (1.7902 Å);
Режим: отражение, трансмия, микродифракция, високотемпературен режим и др.
Приложения: Качествен и количествен анализ; SAXS (Small angle x-ray scattering), Микродифракция, Измервания при различна температура.